位移/测长传感器
 
奥泰斯(OPTEX)激光位移传感器CD33系列
2016-06-01 15:26  点击:200
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品牌:奥泰斯工业自动化控制设备有限公司
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奥泰斯(OPTEX)激光位移传感器CD33系列

经济型位移传感器 
CD33-L正反射型传感器适用于高反射性透明物体检测,提供RS422通信型。
使用UQ1-02可轻松与三菱PLC进行通信,无需I/F或阶梯程序。
内置模拟输出(4-20mA或0-10V)和2个开关量输出,无需连接控制器独立工作。
测量玻璃厚度
CD33-L□□正反射型传感器可检测玻璃表面,也可测量玻璃的厚度。

 

数字亚像素处理

采用数字亚像素处理技术,可以将1个像素细分成65536个亚像素(256×256),使其线性精度比传统位移传感器
提高了2倍以上。

 

高精度感光度修正

高分辨率的电子快门速度为采样周期的1/485,因此有助于确保稳定的受光量峰值状态,自动优化受光量,
即使是不稳定表面亦能保持稳定检测。

 

模拟量电流/电压输出独立选择

传统传感器设定比较耗时,操作键繁多,使用起来相当复杂。而CD33系列将模拟量电压与模拟量电流输出
独立成
两种型号,方便设定与使用。

 

适合安装在机械手臂上工作

结构轻巧紧凑,仅重65g,*适合安装在机械手臂上。

防护等级:IP67,高效防水。

 

双通道输出可独立设定测量范围

高精度比较器输出*小可识别12μm的差异(使用CD33-30型),滞后现象仅为0.15% F.S.

 

远程输入功能—多功能输入(MF

MF远程输入线可实现激光关闭、外部示教、保持功能、单脉冲输入等功能。

 

CD33连接三菱MELSEC-Q系列PLC时所需的控制单元—UQ1系列

UQ1-02可将CD33系列感应头与三菱MELSEC-Q系列PLC直接连接,无需编写通信程序,
UQ1亦可自动设定CD33
感应头。

 

基板的平整度检测


基板组件的高度检测


检测橡胶板间的接缝


建材板的厚度测量


检测玻璃板厚度测量及遮罩板的高度测量(正反射型)


测量曝光设备上的曝光头的高度(正反射型)

 

 

 

 

联系方式
公司:奥泰斯工业自动化专营店
姓名:曾智斌(先生)
职位:销售工程师
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